Avantage 6.6.0‑赛默飞 XPS 光电子能谱数据分析软件

软件介绍

Avantage 6.6.0 为 Thermo Scientific 赛默飞新一代 XPS 表面分析软件，适配 Nexsa、K‑Alpha、ESCALAB 系列 XPS 设备，兼顾仪器控制与数据后处理，支持 XPS、UPS、团簇离子深度剖析、化学成像数据解析，优化高分辨谱拟合算法，仅支持 Windows10/Windows11 64 位系统。

功能特点

1. 算法版本升级，优化分峰拟合计算引擎，提升复杂重叠峰拟合稳定性；改进荷电校正工具，针对绝缘样品自动偏移补偿，减少手动干预。
2. 深度剖析增强，支持团簇离子源溅射数据解析，时间‑深度转换更精准；深度谱图可批量做分峰处理，输出价态随深度变化数据。
3. 化学成像处理模块，面扫描成像数据可做像素级分峰，可视化展示不同化学态的空间分布，支持线扫描数据导出。
4. 兼容多类数据格式，原生读取仪器原始数据，支持 VAMAS 通用格式导入第三方 XPS 数据；内置更新后的元素参考谱库，方便峰位标定。
5. 批量处理与报告系统，批量完成背景扣除、拟合、定量计算；可自定义报告模板，图谱、定量表格可导出图片、文本，直接用于论文发表。